ESDEMC 的 EM601-8 是一款8 GHz 的 IC 带状线 TEM 小室，可产生用于测试小型设备（如 IC、无线通信模块等）的电磁场。通过 EM601-8 的输入端口施加的外部测试信号会在小室内产生一致且可预测的TEM 测试场。也可以使用测试接收器通过端口来检测发射自小室内器件的辐射场。
独特的紧凑且经济的设计针对超出标准 TEM 小室频率范围的中等精度测量进行了优化。 EM601-8 的工作原理与 TEM小室基本相同。测试体积内的 E-H 场与输入电压成正比，与小室高度成反比。如果在小室内部插入辐射物体，则向输入端口移动的辐射波由传输线引导，并在输入端被接收器（例如频谱分析仪）拾取。使用这种方法，可以定量测量来自辐射设备的 RFI。由于该设备的带宽较大，因此在 EMI、EMS、接收机灵敏度测试等领域有许多应用。
高达 8 GHz 的带宽（高于正常 TEM 小室的1 GHz带宽）
可处理高达 1 kV 的高压脉冲，用于瞬态场注入测试
ESDEMC 的 EM601-8 是一款8 GHz 的 IC 带状线 TEM 小室，可产生用于测试小型设备（如 IC、无线通信模块等）的电磁场。通过 EM601-8 的输入端口施加的外部测试信号会在小室内产生一致且可预测的TEM 测试场。也可以使用测试接收器通过端口来检测发射自小室内器件的辐射场。
独特的紧凑且经济的设计针对超出标准 TEM 小室频率范围的中等精度测量进行了优化。 EM601-8 的工作原理与 TEM小室基本相同。测试体积内的 E-H 场与输入电压成正比，与小室高度成反比。如果在小室内部插入辐射物体，则向输入端口移动的辐射波由传输线引导，并在输入端被接收器（例如频谱分析仪）拾取。使用这种方法，可以定量测量来自辐射设备的 RFI。由于该设备的带宽较大，因此在 EMI、EMS、接收机灵敏度测试等领域有许多应用。
高达 8 GHz 的带宽（高于正常 TEM 小室的1 GHz带宽）
可处理高达 1 kV 的高压脉冲，用于瞬态场注入测试
IC的电磁抗扰度测试
IC的电磁辐射测试
IC的ESD场敏感性测试
设计满足以下标准的要求：
SAE 1752-3
| 参数 | 数值 |
| 频率范围 | DC – 8 GHz (高次模的第一个峰值频率> 6 GHz) |
| TEM 小室阻抗 | 标称50Ω ± 5% |
| VSWR |
DC- 3 GHz <1.2 3 – 8 GHz <1.5 |
| 插入损耗 (S21) | DC- 8 GHz <1 dB |
| 回波损耗 (S11 & S22) |
DC- 3 GHz >20 dB 3 – 8 GHz >14 dB |
| 有效小室高度 | 8.0 mm |
| 小室中心电场强度 | 125 V/m @ 1V (最大125 kV/m @ 1kV) |
| 小室中心磁场强度 | = 电场强度 /377 (A/m) |
| 射频连接器 | SMA |
| 最大输入功率 | 70 瓦 |
| 最大输入电压 | 1 kV @DC, 5kV @脉冲 |
| DUT 端口尺寸 | 40 (W) x40 (D) mm |
| 建议最大 DUT 尺寸 | 20 (W) x 20(W) x 2(H) mm |
| TEM小室尺寸 | 120 (W) x 52 (D) x 20 (H) mm |
| 重量 | 约 0.5 kg |
| 编号 | 型号 | 描述 | 状态 |
| 1 | EM601-8 | EM601-8 IC带状线TEM小室, DC-8 GHz | 可订购 |
