EM601-6 IC带状线TEM小室(DC-6GHz,5kV脉冲)

ESDEMC 的 EM601-6 是 一款6 GHz 的 IC 带状线 TEM 小室,可产生用于测试小型设备(如 IC、无线通信模块等)的电磁场。通过 EM601 的输入端口施加的外部测试信号会在小室内产生一致且可预测的TEM 测试场。也可以使用测试接收器通过端口,检测来自在小室中的器件所发射的辐射场。

特点:

  • 高达 6 GHz 的带宽(超出 1 GHz 的正常 TEM 小室带宽)
  • 可处理高达 5 kV 的高压脉冲,用于瞬态场注入测试

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描述

1.描述

ESDEMC 的 EM601-6 是 一款6 GHz 的 IC 带状线 TEM 小室,可产生用于测试小型设备(如 IC、无线通信模块等)的电磁场。通过 EM601 的输入端口施加的外部测试信号会在小室内产生一致且可预测的TEM 测试场。也可以使用测试接收器通过端口来检测发射自小室内器件的辐射场。

独特的紧凑且经济的设计针对超出标准 TEM 小室频率范围的中等精度测量进行了优化。 EM601-6 的工作原理与 TEM小室基本相同。测试体积内的 E-H 场与输入电压成正比,与小室高度成反比。如果在小室内部插入辐射物体,则向输入端口移动的辐射波由传输线引导,并在输入端被接收器(例如频谱分析仪)拾取。使用这种方法,可以定量测量来自辐射设备的 RFI。由于该设备的带宽较大,因此在 EMI、EMS、接收机灵敏度测试等领域有许多应用。

2.特点

  • 高达 6 GHz 的带宽(高于正常 TEM 小室的1 GHz带宽)
  • 可处理高达 5 kV 的高压脉冲,用于瞬态场注入测试

3.应用

  • IC的电磁抗扰度测试
  • IC的电磁辐射测试
  • IC的ESD场敏感性测试
  • IEC 61967-2集成电路 – 电磁辐射测量,150 kHz 至 1 GHz – 第 2 部分:辐射发射测量 – TEM 小室和宽带 TEM 小室方法
  • IEC 61967-8集成电路 – 电磁辐射测量,150 kHz 至 3 GHz – 第 8 部分:辐射发射测量 – IC 带状线方法
  • IEC 62132-8集成电路 – 电磁抗扰度测量,150 kHz 至 3 GHz – 第 8 部分:辐射抗扰度测量 – IC 带状线法
  • SAE 1752-3 集成电路辐射发射的测量 – TEM/宽带 TEM (GTEM) 小室方法; TEM 小室(150 kHz 至 1 GHz)、宽带 TEM 小室(150 kHz 至 8 GHz)

4.规格

参数 数值
频率范围 DC – 6 GHz (高次模的第一个峰值频率> 6 GHz)
TEM 小室阻抗 标称50Ω ± 5%
VSWR DC- 3 GHz  <1.2
3 – 6 GHz <1.5
插入损耗 (S21) DC- 6 GHz  <1 dB
回波损耗 (S11 & S22) DC- 3 GHz  >20 dB
3 – 5 GHz >14 dB
5 – 6 GHz >10 dB
有效小室高度 12.5 mm
小室中心电场强度 80 V/m @ 1V (静态场最大 240 kV/m, 瞬态场最大400 kV/m)

仅需 0.3125 mW 输入功率即可实现 10 V/m 电场,或 3.125 W 即可实现 1000 V/m。根据 12.5 毫米隔垫到壁高计算得出。

小室中心磁场强度 = 电场强度 /377 (A/m)
射频连接器 N-型
最大输入功率 500 瓦
最大输入电压 3 kV @直流,  5kV @脉冲
DUT 端口尺寸 50 (W) x 50 (D) mm
建议最大 DUT 尺寸 30 (W) x 30(W) x 3(H) mm
TEM小室尺寸 170 (W) x 120 (D) x 70 (H) mm; 6.5 (W) x 4.5 (D) x 1 in.
重量 约 1 kg; 2 lbs.

 

文档

EM601-6 IC 带状线 TEM 小室 DC-6 GHz 数据手册 (PDF)