TLP测量误差是由探测触点电阻、互连损耗和失配、衰减值不准确以及示波器偏移和比例误差的组合引起的。通过短开路负载齐纳（SOLZ）校准方法（根据ESDA TR5.5-02-08传输线脉冲循环）可以最小化这些误差。 ES62X-CKP上提供了不同的参考设备值，用于在被测器件（DUT）期望的电压和电流范围内校准TLP测量系统。
在该校准套件中，有1个短路和1个开路测试结构可用于评估系统在串联电阻和并联电导或测量动态范围内的校准性能。已选择8个精密基准电阻，范围为0.1、0.2、0.51、1、4.99、10、49.9和100Ω，用于TLP电流测量通道的校准，4个精密基准齐纳二极管，范围为5.1、10 、33和110 V用于校准电压测量通道。一个瞬态电压抑制器（TVS）二极管用于校准TLP系统的参考测量。每个参考设备都有3X2插座引脚和1个SMA连接器，用于脉冲检测和可选的接地检测测量和校准。
TLP测量误差是由探测触点电阻、互连损耗和失配、衰减值不准确以及示波器偏移和比例误差的组合引起的。通过短开路负载齐纳（SOLZ）校准方法（根据ESDA TR5.5-02-08传输线脉冲循环）可以最小化这些误差。 ES62X-CKP上提供了不同的参考设备值，用于在被测器件（DUT）期望的电压和电流范围内校准TLP测量系统。
在该校准套件中，有1个短路和1个开路测试结构可用于评估系统在串联电阻和并联电导或测量动态范围内的校准性能。已选择8个精密基准电阻，范围为0.1、0.2、0.51、1、4.99、10、49.9和100Ω，用于TLP电流测量通道的校准，4个精密基准齐纳二极管，范围为5.1、10 、33和110 V用于校准电压测量通道。一个瞬态电压抑制器（TVS）二极管用于校准TLP系统的参考测量。每个参考设备都有3X2插座引脚和1个SMA连接器，用于脉冲检测和可选的接地检测测量和校准。
封装或PCB级TLP SOLZ校准
| 参数 | 数值 | 单位 | 备注 |
| 电阻值 | 0.1, 0.2, 0.51, 1, 4.99, 10, 49.9, 100 | Ω | 1 % 精度 (总共8个) |
| Z二极管的值 | 5.1, 10, 33, 110 | V | 1 % 精度(总共4个) |
| TVS的击穿电压 | 6 | V | 校准表的数据更好 |
| TVS的最大TLP电流 | >40 | A | 用100 ns TLP测试 |
| TLP端口连接 | SMA & 2.54 Socket Pin | NA | |
| PCB尺寸 | 51 x 108 | mm |
| 编号 | 型号 | 描述 |
| 1 | ES62X-CKP-0 | 封装或PCB级TLP SOLZ 校准板(仅有PCB裸板) |
| 2 | ES62X-CKP-1 | 封装或PCB级TLP SOLZ校准板 |
