Posted on

即将上市:ES622脉冲IV曲线系统

ESDEMC Technology即将发布ES622脉冲IV曲线系统。该新系统将最终取代ES620脉冲IV曲线系统。与现有的ES620一样,ES622提供了一种在各种脉冲条件下测试DUT的便捷方法。这些系统可以捕获和显示瞬态数据,IV曲线数据和漏电数据。并可以控制多达3个偏置源。

与基于LabView的ES620相比,基于Python的ES622软件提供了更清晰的用户友好体验。新的软件平台还允许以更快的周转时间实施请求的功能和更改。

ES622支持比以前更多的TLP上升时间和脉冲宽度,并且已采取措施提供更高的输出电压精度。与旧版ES620相比,该新系统还具有更快的测试速度。ES622比ES620支持更多的脉冲发生器类型,并且更简单的软件平台将允许将来添加更多的脉冲发生器。ES622将支持TLP,vf-TLP,EOS,HBM,HMM,MM,EFT和电涌。

在第一版ES622发布之后,我们还会提供自动探针探测设备,其将使设备测试更加容易。

ES622脉冲IV曲线系统
ES622脉冲IV曲线系统
ES622脉冲IV曲线系统
ES622脉冲IV曲线系统
ES622软件屏幕截图
ES622软件屏幕截图
Posted on

ESDEMC Technology的CCTLP解决方案

电容耦合传输线脉冲发生器(CC-TLP),与标准JS-002 CDM测试仪相比,允许用户生成具有更高控制和可重复性的类CDM脉冲,这是通过vf-TLP而不是CDM测试仪完成的。 研究设备对CDM压力的响应只需要CC-TLP探针夹具和vf-TLP设置即可。此应用的典型vf-TLP脉冲设置通常分别为1ns和100ps的脉冲宽度和上升时间。

ESDEMC Technology即将发布其CC-TLP探测解决方案,作为对现有vf-TLP解决方案的补充。包括特殊软件支持。 CC-TLP解决方案最终将是市场上第一家提供自动校准和设备探测的选项。也可以使用倾斜调节旋钮和微型定位器手动进行校准和探测,CC-TLP探测头可以轻松地安装到微型定位器上。

下图显示了ESDEMC的CDM,RP-CCDM和CCTLP之间的瞬态数据比较。

Posted on

即将上市:HVAT-3K20-1G22E高能量脉冲宽带衰减器

ESDEMC正在扩展其高压脉冲衰减器的品类,开发了HVAT-3K20-1G22E型号高能量脉冲衰减器。 尽管带宽不如其他ESDEMC衰减器(HVAT-3K20-1G22E的工作频率为DC – 1GHz,衰减变化<±1 dB),但该型号衰减器能够承受的能量比其他型号高很多。下表比较了HVAT-3K20-1G22E和市场上其他20 dB高压脉冲衰减器的主要参数。

 

带宽

经测试的最大电压@脉冲宽度

峰值功率(在SOA *之内)

最大单脉冲能量

连接器

衰减

ESDEMC

HVAT-3K20-1G22E

DC – 1 GHz(1dB Band) 3kV, 1ms5kV, 1us 180kW 200 J N-Type 20dB

ESDEMC

HVAT-3K20-3.5

DC – 3.5 GHz(1dB Band) 3 kV, 500 ns 180kW 0.1 J SMA 20dB

ESDEMC

HVAT-5K20-3.5

DC – 3.5 GHz(1dB Band) 5kV, 500 ns 500kW 0.5 J N-Type 20dB

HPPI

HVA-20A

DC – 7 GHz(3dB Band) 1.5 kV, 1 us 45 kW NA SMA 20dB

Barth

Model 102 Series

DC – 7 GHz(3dB Band) 5 kV, 80 ns 500 kW NA N-Type 20dB

 

下图是HVAT-3K20-1G22E的频率响应。 另外,ESDEMC可定制衰减器的衰减倍数。

HVAT-3K20-1G22E高能脉冲宽带衰减器

Posted on

即将上市:支持多种测试方法,更精准电机启动,更大测试区域,更高带宽的CDM测试机台

ESDEMC即将发布新开发的ES640系列自动化CDM(Charged Device Model, 充电器件模型)测试机台。 ES640可支持多种现行的CDM测试方法包括广泛使用的场感应放电(FI-CDM)测试方法(ANSI / ESDA / JEDEC JS-002-2018,AEC Q100-011D,AEC Q101-005A),为低压CDM设计的多种先接触再放电(CCDM)测试方法,例如LI -CCDM(ANSI / ESD SP5.3.3-2018),CC-TLP方法,以及我们正在申请专利的RP-CCDM方法。RP-CDM是一种高稳定度的,最接近JS002标准的CCDM测试方法,其校准波形完全符合JS002中的波形标准。

ES640型的高精度电机驱动可将XYZ方向的移动步进降至1 µm,可进行电路模块,封装器件和一些晶圆级的CDM测试。 该解决方案还具有更大的测试区域(150 x 150和300 x 300 mm)。 两种型号都为被测器件或模块提供了足够的空间。 另外,ES640系列机台也可根据客户需求,定制测试区域面积。

ES640使用DSP,可以大大提高测量带宽。对测试链路(包括盘式电阻器,线缆,衰减器和测量通道接头)的频率补偿算法,可以使系统测量带宽超过18 GHz

ES640型具有±5V至±2000V / 4000V的精确电压控制范围,在测试设置中最多可以启用三个摄像头,以方便用户操作(两个摄像头分别在X和Y方向上观察放电针的接触情况,另一个摄像头在Z方向进行垂直对齐)。

ES640的测试软件可以进行放电波形的自动获取,系统校准,对测量波形数据进行频率补偿数据处理,以及优化测试速度,同时支持多种CDM测试方法。 可应要求提供旧标准和定制的CDM方法。

您可随时通过[email protected]与我们取得联系,以获取有关测试系统的更多信息。

具有多种方法,更好的运动和更高带宽的CDM解决方案

Posted on

近期发布:CT-002 系列宽带电流探头

ESDEMC Technology将发布一系列电流探头,其最新版本为CT-002-S和CT-002-T两个类别。本系列电流探头旨在测量瞬变电流,其应用类似于泰克 CT系列电流探头。 ESDEMC的电流探头具有更宽的工作带宽和更高的饱和点,可用于更高和更低频率,以及更大电流的测量。与CT-002-T系列的通孔探头相比,CT-002-S系列变压器使用SMA连接,并允许更高频率的应用。当前,CT-002-S系列主要有CT-002-0p5和CT-002-0p2两个型号。 CT-002-T系列主要有CT-002-T-0p5型号。

下表比较了ESDEMC的电流探头与泰克 CT1、CT2电流探头部分参数。

  有效带宽 传输阻抗 电流-时间 常数
ESDEMC CT-002-S-0p2 400 Hz – 2 GHz 0.2 V/A 200 A-µs
ESDEMC CT-002-S-0p5 1 kHz – 4 GHz 0.5 V/A 75 A-µs
ESDEMC CT-002-T-0p5 1 kHz – 2 GHz 0.5 V/A 75 A-µs
泰克 CT1电流探头 25 kHz – 1 GHz 5.0 V/A 1 A-µs
泰克 CT2电流探头 1.2 kHz – 200 MHz 1.0 V/A 50 A-µs

此外,ESDEMC可以定制电流探头,以满足客户的特定要求。

Posted on

即将上市:瞬态电压抑制器(DC-10GHz / DC-15GHz)

TVS-10G +瞬态电压抑制器,DC- 10GHz

TVS-15G +瞬态电压抑制器,DC- 15GHz

ESDEMC 公司即将发布两款新版TV​​S示波器保护器,新版本的保护器改进了现有的TVS-10G型号示波器保护器。新型TVS-10G +的设计更为紧凑,可消除低于钳位电压信号的上升沿失真问题。它还具有更快的钳位速度,可以同时改善信号完整性,并更好的实现对示波器的保护。新的TVS-15G更新了外壳,将工作带宽扩展到15GHz。

下表是TVS-10G(现有版本)与新TVS-10G +和TVS-15G的规格对比。

  TVS-10G TVS-10G+ TVS-15G
开启保护电压最小值(V) 6.5 7.5 6.2
开启保护电压最大值(V) 7.3 11 7.5
TLP动态电阻(4 – 16A)(Ohm) 1 0.45 1.2
IEC ESD等级– 接触模式 (kV) 20 10 12
IEC ESD等级– 空气模式(kV) 20 15 18
8 / 20us浪涌 Ipp值(A) 3.6 4.5 2
开启保护前波形上升沿是否有失真

以下是ESDEMC不同版本 TVS示波器保护器的频率响应(插入损耗)。

Posted on

ESDEMC 将参加 2019 年EOS/ESD 年会 (Riverside, CA, USA, Sep 15th – 20th)

ESDEMC 将参加 2019 EOS/ESD 年会 (Riverside, CA, USA, Sep 15th – 20th)

展会位置:

Riverside Convention Center
3637 5th Street
Riverside, CA 92501

展会时间:

  • 周一, 9月16日,  6:00 PM – 9:00 PM
  • 周二, 9月17日,  9:30 AM – 5:30 PM
  • 周三, 9月18日,  8:30 AM – 1:30 PM

我司 2019年新产品包括:

ES620-LVS大电流低压浪涌IV曲线测试系统

EOS-500 EOS 脉冲发生器 及 IV曲线测试系统

欢迎届时莅临!

Posted on

ESDEMC参加了2018年EOS / ESD研讨会 并获得最佳展商荣誉

ESDEMC参加了2018年的国际EOS / ESD研讨会 并获得最佳展商荣誉(美国内华达州里诺市,9月24日至26日)  
ESDEMC参加了2018年EOS / ESD研讨会 并获得最佳展商荣誉
ESDEMC参加了2018年EOS / ESD研讨会 并获得最佳展商荣誉
  我们的2018年新开发的测试方案包括:   ES620-LVS低压浪涌IV曲线系统 (业界第一款浪涌的自动机台) 这套系统可以自动化测量器件的抗浪涌脉冲能力 ,并用类似TLP系统的测试方案自动记录波形和漏电 或者DC曲线,通过数据来分析器件的失效等级   EOS-500 EOS脉冲发生器和IV曲线系统 (业界第一款us-ms等级的大电流方波长脉宽的自动机台) 这套系统可以自动化测量器件的方波抗过载脉冲能力 ,并用类似TLP系统的测试方案自动记录波形和漏电 或者DC曲线,通过数据来分析器件的失效等级