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ESDEMC 科技有限公司条款

付款

所有付款均应在收到时支付。如果未收到付款或付款方式被拒绝,则买方将丧失所购买物品的所有权。如果没有收到付款,则不会运送任何物品。

运输政策

运费将由买方按照卖方在购买时约定的金额支付。如果物品在运输过程中丢失,包括运费在内的物品总费用将由卖家退还给买家。如果国际运输,运输成本可能会显着增加。如果物品在运输过程中损坏,买家将不承担任何责任。

如果买家在计算运费之前下达了超过 1000 美元的订单,则在添加任何相关运费之前,买家还需支付订单总价值 1% 的运费保险费。

取消订单

在付款被处理之前,订单可以被取消。一旦付款处理完毕后,买方负责付款。

退款/退货政策

A. 适用产品

在以下条件下,产品可能有资格退回 ESDEMC Technology LLC:

  1. 如果客户错误订购了产品,则以下类型的产品不符合退货条件:-       定制产品(即为满足特定客户要求而设计、制造或配置的产品);-       被 ESDEMC 技术有限责任公司标记的不可退还的零件;和-       保质期已过的产品。
  2. 当 ESDEMC Technology LLC出现与产品相关的错误时,包括以下情况:-    客户收到的产品与订购的产品不同;-    客户收到的产品在运输途中损坏;或-     客户收到“DOA”(到达时死亡)产品
  3. 任何被 ESDEMC Technology LLC 确定为符合退货条件且在过去 30 天内购买的产品。

B. 产品退货费用

  1. 对于基于客户错误的退货,ESDEMC Technology LLC 可酌情收取产品净购买价格的 15% 作为退货/补货费用。如果收取退货费用,则可能会从客户的退货信用中扣除。
  2. 对于基于客户错误操作产品的退货,ESDEMC Technology LLC 可酌情收取产品净购买价格 15% 的额外费用,用于翻新产品。如果收取翻新费,则可能会从客户的退货信用中扣除。
  3. 对于基于客户错误的退货,客户将支付退货运费到 ESDEMC Technology LLC 指定的地点。
  4. 对于 基于ESDEMC Technology LLC 错误的退货,ESDEMC Technology LLC 将支付退货运费,并且不会向客户收取任何退货/补货或翻新费用。

C. 信用释放

在 ESDEMC Technology LLC 实际收到产品之前,不会向客户签发超过 500 美元(或等值的当地货币)的信用备忘录。 ESDEMC Technology LLC 可自行决定在收到产品之前向客户提供低于 500 美元的信用备忘录。

贷项备忘录的计算方式如下:原始发票金额减去上文 (B) 节中列出的任何费用。所述产品的发票后价格变化,无论是减少还是增加,都不会影响信用计算。

信用备忘录将在 ESDEMC Technology LLC 实际收到上述产品之日起 15 个工作日内向客户发出。

D. 发起退货

要发起退货,您需要检索您的订单号。它将包含在订单收据中,也可以在您的在线帐户的订单页面上找到。致电或发送电子邮件给我们,提供订单号、您希望退货的产品以及退货原因。

如果您的产品符合退货条件(如这些条款和条件的相关部分所述),我们将提供有关如何退货的说明。一旦我们收到该物品并确定不需要其他费用,就会发出信用备忘录,如这些条款和条件的相关部分所述。

 

公司服务条款:

定价政策

1 年保修后的维修价格为 100 美元/小时,外加零件。 ESDEMC Technology LLC 提供 1 小时免费评估、诊断和评估。未经客户授权,不得提供任何服务。

在维修期间,如果需要,客户可以要求免费的演示。

特殊订单

对于我们不携带或没有库存的零件的任何特殊订单请求,必须通过第三方供应商购买。特殊订单零件通常需要 3-10 个工作日。

对于供应商发送给我们的任何运输延误或有缺陷的零件,我们概不负责。我们将尽最大努力满足客户的要求,但我们无法控制第三方供应商。对本政策的误解将不给予任何折扣。如果您的设备或部件的交付对时间敏感,ESDEMC Technology LLC 将不接受特殊订单。

保修政策

ESDEMC Technology LLC 对所提供的服务提供 1 年人工和零件保修。如果有任何不当处理、不当使用、物理损坏、水损坏或篡改的证据,保修将失效。 ESDEMC Technology LLC 不对在维修前、维修期间和维修后发现的任何其他未在维修前注意到的损坏以及任何与软件相关的问题负责。维修或配件销售不予退款。

除非得到经理的批准,否则任何人工大修都不会退货。

退货/退款

我们接受 30 天内损坏或有缺陷的配件的退货,并且仅提供收据。我们将对使用的或因任何其他原因退货的任何部件收取 15% 的库存费用。除非得到经理的批准,否则任何人工大修都不会退货。

投诉

任何关于商品或卖家的投诉都可以发送至我们的支持团队:[email protected] 或 (573) 202-6411。 ESDEMC Technology LLC 将在工作时间 24 小时内回复

合法性

买家收到商品后,卖家不对任何健康或安全问题负责。如果买家对购买的物品造成任何损害,卖家不承担任何责任。

这些条款和条件可能会发生变化。买方有责任定期查看本隐私政策并了解修改情况。

我已阅读并同意条款和条件。

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TR002 PV模块二极管TLP测试报告

SEM image of die surface from ESD damaged PV bypass diode sample, melted metal and silicon observed

PDF版本下载: TR002_PV Module Diodes TLP Test Report

太阳能电池阵列中安装的旁路和阻塞二极管对潜在的静电放电(Electrostatic Discharge, ESD)事件非常敏感。该报告阐述了PV模块二极管ESD失效机理,给出了测试和分析该类二极管ESD失效的有效方法。报告提供了太阳能阵列制造商所提供的几种型号二极管的测试方法和结果,用于演示该测试方法的有效性。

(Wei Huang, Jerry Tichenor, Yingjie Gan, David Pommerenke)

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弗里斯(Friis)传输计算器

弗里斯传输方程,如下所示,给出了理想条件下,已知天线增益,距离,波长时,经过一段无线通信电路后的传输功率的接收比率。使用下面的计算器,可根据该公式,计算当已知公式中其他所有变量时唯一的未知量。

friis

空出未知量不填,填入其他已知值。当一个可用单位的数值输入后,另一个可用单位的值会自动计算出来。填入所有已知值,点击未知量旁边的“Calculate”按钮,即可计算未知量的值。

发射功率, Pt  W
dBm
发射天线增益, Gt  dBi
dBd
接收天线增益, Gr  dBi
dBd
接收功率, Pr  W
dBm
距离, meters
miles
频率 kHz
MHz
GHz
波长, λ  meters
cm
mm
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衰减器计算器

Pi型衰减器计算器

输入数值,按“Enter”键或单击“Calculate”按钮进行计算

Schematic of Pi Attenuator 衰减倍数: dB
输入阻抗: Ohm
输出阻抗: Ohm
理想值
R1 Ohm
R2 Ohm
R3 Ohm
E12 数值 E12 效果
R1 Ohm 衰减倍数 dB
R2 Ohm Zin Ohm
R3 Ohm Zout Ohm
E24 数值 E24 效果
R1 Ohm 衰减倍数 dB
R2 Ohm Zin Ohm
R3 Ohm Zout Ohm
E48 数值 E48 效果
R1 Ohm 衰减倍数 dB
R2 Ohm Zin Ohm
R3 Ohm Zout Ohm
E96 数值 E96 效果
R1 Ohm 衰减倍数 dB
R2 Ohm Zin Ohm
R3 Ohm Zout Ohm
E192 数值 E192 效果
R1 Ohm 衰减倍数 dB
R2 Ohm Zin Ohm
R3 Ohm Zout Ohm

T型型衰减器计算器

输入数值,按“Enter”键或单击“Calculate”按钮进行计算

Schematic of T Attenuator 衰减倍数: dB
输入阻抗: Ohm
输出阻抗: Ohm

理想值
R1 Ohm
R2 Ohm
R3 Ohm
E12 数值 E12 效果
R1 Ohm 衰减倍数 dB
R2 Ohm Zin Ohm
R3 Ohm Zout Ohm
E24 数值 E24 效果
R1 Ohm 衰减倍数 dB
R2 Ohm Zin Ohm
R3 Ohm Zout Ohm
E48 数值 E48 效果
R1 Ohm 衰减倍数 dB
R2 Ohm Zin Ohm
R3 Ohm Zout Ohm
E96 数值 E96 效果
R1 Ohm 衰减倍数 dB
R2 Ohm Zin Ohm
R3 Ohm Zout Ohm
E192 数值 E192 效果
R1 Ohm 衰减倍数 dB
R2 Ohm Zin Ohm
R3 Ohm Zout Ohm
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电压驻波比 <=> 反射损耗 <=> 反射系数转换器

输入下列任一参数,其他两值将自动计算出来。


反射损耗:  dB
反射系数( S11 ):
电压驻波比: :1

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LC 震荡计算器

 

当电感和电容并联或串联放置时
它们会产生一个震荡频率,如下设计方程所示。

LC震荡电路在陷波滤波器,带通滤波器和振荡器电路中广泛使用。

 

设计方程:

Lc_resonance

输入震荡电路的任意两个参数,
该计算器将会计算出第三个参数。

频率:
(MHz)
电容:
(pF)
电感:
(nH)

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瓦特(Watts) <> 毫瓦分贝(dBm )<> 伏特(Volts )转换器

该计算器可将瓦特(watts), 毫瓦分贝(dBm), 伏特(volts) 和  dBmV 互相转换。

选择阻抗,输入任一参数,其他参数将会自动计算出来。

阻抗(Ω):  50Ω 常见于射频和微波系统
75Ω 常见于电视和视频系统
600Ω 常见于音频系统
自定义数值
毫瓦(mW):
瓦特 (W):
毫瓦分贝(dBm):
瓦分贝(dBW):
V均方根值:
V峰值: 假定为正弦波
V峰-峰值: 假定为正弦波
dBmV:  1mV 均方根值 对应dB值. 常用于有线电视系统,并且仅对 75Ω 系统有效。

射频工程师通常会记的数值:

dBm mW 注释
  0   1 精确值,根据dBm的定义
  3   2 3 dBm实际为1.995 mW。对于绝大多数实际应用来说,这个近似值就足够了
 10  10 精确值
 +3  X 2 功率增加3 dBm 等同于瓦数乘以2 (实际是 1.995,近似值对于绝大多数实际应用是可以的)
+10 X 10 功率增加10 dBm 等同于瓦数乘以10,为精确值

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ESDEMC 公司项目开发能力

ESDEMC 科技有限责任公司是一家高科技公司,专门从事测试、测量产品和服务的开发和制造。我们的团队在高压,高频,复杂系统等极具挑战性的领域有丰富的开发经验。

公司目前的设计能力包含以下几个方面:

1 . 高速模拟和数字模块或系统设计

2.  单片机/ DSP/ FPGA / 编程

3.  40GHz高频电路和系统开发

4. 300kV 高压电路和系统设计

5. LABVIEW / MATLAB / Visual C++/ Visual Basic 编程项目

6. 机械设计,数控加工, 快速成型,  3D打印

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PB2016.02 PV模块二极管的ESD失效分析及TLP测试方法

下载 PDF – PV模块二极管的ESD失效分析及TLP测试方法

安装在太阳能电池阵列中的旁路和阻塞二极管是太阳能电池系统功率的重要保证。然而,这些二极管对于潜在的静电放电(ESD)时间非常敏感。这些静电放电时间可能发生在太阳能光电池(PV)阵列的生产,运输,和现场安装过程中。PV模块质量保证国际论坛 [1] 的设立是为了研究PV模块的稳定性,其中的第4工作小组负责研究测试用于PV阵列二极管的ESD鲁棒性,以及如何提高PV阵列性能。

本文阐述了二极管ESD失效背后的原理,介绍测试和分析二极管的有效方法。 文中给出了太阳能阵列制造商所提供的几种型号二极管的测试方法和结果,以说明该测试方法的有效性。


更多阅读: http://incompliancemag.com/article/esd-failure-analysis-of-pv-module-diodes-and-tlp-test-methods/#ixzz45fk4HnPT
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PB2015.12 瞬态静电放电模拟器的系统级模型

 下载 PDF – 瞬态静电放电模拟器的系统级模型 摘要— 论文介绍了一种改进的静电放电系统级瞬态模型,通过比较模型和IEC 61000-4-2 静电枪对实际产品放电的测试结果,讨论验证了该模型的正确性。该系统模型为大电流宽带(至3 GHz)模型,由电阻,电感,电容,铁氧体磁珠,二极管和集成电路IO管脚构成。复杂回流路径的模拟是实现系统在IEC激励下有正确响应的关键点。模型还包含了有能量限制的时间依赖的IC损伤模型。论文引入了功率-时间积分方法,用于准确判断当注入一个任意波形时,结点是否会发生热失效 。该方法不需要知道结点的微观结构,材料信息,缺陷位置,或熔融温度。 索引 — 共模,电磁兼容 (EMC), 静电放电 (ESD), 人体金属模型 (HMM), IEC 61000-4-2, 系统有效ESD 设计(SEED), 传输线脉冲 (TLP).
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传输线脉冲 (TLP) 测试

传输线脉冲测试,或TLP测试,是半导体静电放电保护结构特性的一种测试方法。在传输线脉冲测试中,通过对一根特定长度的同轴线依次加压,向测试引脚(pin under test, PUT)注入大电流脉冲。注入脉冲的电流幅值和持续时间表征人体模型(HBM)事件(或充电器件模型-CDM事件,对应超快TLP,或VF-TLP)。通过测量入射波和反射波,计算电压-电流(V-I)曲线,来描述ESD保护结构在TLP应力作用时的响应特性。传输线脉冲 测试是独特的,因为电流脉冲是安培量级的,并且TLP测试结果可以显示ESD保护结构的开启,回滞,保持特性。

传输线脉冲测试在两个方面非常有用。一,TLP可以用来表征新技术和知识产权(IP)被测芯片的输入/输出(I/O)焊盘单元。当开发仿真参数时,以及定性比较不同ESD保护结构焊盘单元设计的相对优点时,TLP是非常有用的。二,TLP可以用作电气失效分析工具,通常与常规的,基于标准的器件级ESD测试配合使用。

TLP 测试是根据ESDA TLP 测试方法, ESDA SP5.5-2014来实施的.

适用的TLP行业标准

  • ESDA SP5.5-2014 (ESD 委员会)
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TS002 基于TLP方法的电缆放电事件(CDE)自动化评估系统

下载PDF- Cable Discharge Event (CDE) Automated Test System Based on TLP Test Method

什么是CDE ? 电缆放电事件 (Cable Discharge Event ,CDE) 是电缆接头的金属部分和被接电缆接口或插口金属部分之间的静电放电。它是我们日常生活中非常常见的一种静电放电。

当CDE发生时,会产生瞬时大电流高电压脉冲,注入到接头引脚,可能引起系统的损伤。脉冲特性取决于电缆类型,电缆长度,电缆的物理摆放,被接接头系统特性和接头的内部电路结构。

作为电缆放电测试方案的拓荒者,ESDEMC公司在过去的三年中已经开发了数个电缆放电自动化测试系统。这里,我们想介绍我们最新的一类CDE测试系统,该测试系统是在我们最新的TLP-MUX系统的基础上研发的。

MUX代表复用器(Multiplexer), 用户可使用它,搭配我们的ES62X系列TLP系统(我们的首个 TLP-MUX设计方案可实现32管脚的自动化测试)进行多种设备的自动化测试。因此,该系统可实现不同线缆接口设计,例如USB,HDMI,VGA,DVI等接口的ESD可靠性测试和数据分析。

ESDEMC_GenericCDE_TLPbased_V2
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Wei Huang

Wei Huang

 

Wei Huang
Wei Huang

创始人,董事长,CEO

Wei Huang于 2010年获得密苏里科技大学电子工程硕士学位,于2007年获得北京邮电大学电子工程学士学位。他曾在密苏里科技大学电磁兼容实验室任研究助理,主要方向为电磁兼容,静电,以及射频设计。他是ESDEMC科技有限公司的创始人及董事长,现在致力于ESD和EMC的创新测试方案研发。

iNARTE 认证的电磁兼容工程师

Wei Huang has been an iNARTE Certified EMC Engineer from 2009 (The youngest iNARTE EMC Engineer, 23 years old )

2009年,Wei Huang 成为 iNARTE 认证的EMC工程师(最年轻的 iNARTE EMC 工程师, 23 岁)

专业背景

  • 密苏里科技大学 (前密苏里州立大学罗拉分校), 美国, 电子工程硕士, 2010.
  • 北京邮电大学,中国,电子工程学士, 2007.

职务

  • 2010年 – 至今       ESDEMC科技有限公司创始人,董事长
  • 2009年夏              苹果公司,硬件工程师,便携系统EE组
  • 2007年 – 2010年  研究助理,密苏里科技大学(前密苏里州立大学罗拉分校)EMC实验室
  • 2005年 – 2007年  北京HJH S&T责任有限公司硬件设计工程师,产品设计组

发表论文

  1. W Huang , J Dunnihoo , D Pommerenke, “Effects of TVS Integration on System Level ESD Robustness”, 2010 International EOS/ESD Symposium, Reno, NV, USA, Oct. 3 – 8
  1. W Huang, D Liu, J Xiao, D Pommerenke J Min, G Muchaidze, “Probe Characterization and Data Process for Transient Current Reconstruction by Near Field Scanning Method”, 2010 Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility, Beijing, China, Apr. 12 – 16
  1. Xiao, D. Liu, D. Pommerenke, W Huang, P. Shao, X. Li, J. Ming, G. Muchaidze, “Near Field Probe for Detecting Resonances in EMC Application”, EMC COMPO 2009, 7th International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Nov. 17 – 19
  1. W.Huang, D. Pommerenke, J. Xiao, D. Liu, J. Ming, G. Muchaidze, S. Kwon, “A Measurement Technique for ESD Current Spreading on A PCB using Near Field Scanning”, Present on 2009 IEEE International Symposium on EMC, Austin, Texas, Aug. 17 – 21
  1. M. Giorgi, W. Huang, M. Jin, P. Shao, D. James , D. Pommerenke, “Automated Near-Field Scanning to Identify Resonances”, EMC Europe 2008, Hamburg, Germany, Sep. 8-1
  2. W. Huang, M. Jin, P. Shao, D. James , D. Pommerenke, “Automated Near-Field Scanning to Identify Resonances”, EMC Europe 2008, Hamburg, Germany, Sep. 8-1
  3. W. Huang, J Tichenor, D. Pommerenke, V. Pilla, P. Maheshwari, G. Maghlakelidze, “An Ethernet Cable Discharge Event (CDE) test and measurement system”, 2014 IEEE International Symposium on EMC, North Carolina, Raleigh, Aug. 3 – 8

协作者&合作编辑

  1. David Pommerenke, 密苏里科技大学电磁兼容实验室教授
  2. Jerry Tichenor, Fredric Stevenson, ESDMEC科技有限公司产品设计部成员

研究生导师

  • David Pommerenke教授

 

 

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David Pommerenke

David Pommerenke

 

David Pommerenke
David Pommerenke

技术顾问, IEEE 会士  

Pommerenke教授自ESDEMC公司创办即为公司的技术顾问。 他在静电放电(ESD)和电磁兼容(EMC)方面的渊博知识极大的帮助了我们的团队,指导了公司许多产品的设计和研发工作。

专业背景

  • 柏林科技大学,德国,电子工程博士,1995.
  • 柏林科技大学,德国,电子工程学士,1989.

职务

  • 2008年 – 至今,     美国密苏里科技大学,电子计算机工程学院,教授
  • 2001年 – 2008年,美国密苏里科技大学,电子计算机工程学院,助理教授
  • 1996年 – 2001年, 美国Hewlett Packard公司,电磁兼容研究和测试工程师
  • 1995年 – 1996年,  德国柏林科技大学,博士后
  • 1990年 -1995年,   德国柏林科技大学,高电压动力工程学院,助理研究员

5篇最有影响力论文

  1. Ghasr, Mohammad Tayeb, Mohamed A. Abou-Khousa, Sergey Kharkovsky, R. Zoughi, and David Pommerenke. “Portable real-time microwave camera at 24 GHz.” Antennas and Propagation, IEEE Transactions on, 2012, 60, no. 2, pp. 1114-1125.
  2. Fallahpour, M., M. Baumgartner, A. Kothari, M.T. Ghasr, D. Pommerenke and R. Zoughi, “Compact Ka-Band One-Port Vector Reflectometer using a Wideband Electronically-Controlled Phase-Shifter,” IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, October 2012, Vol. 61, no. 10, pp. 2817-2826
  3. Bishop, J. A.; Pommerenke, D. J.; Chen, G., ‘,A Rapid-Acquisition Electrical Time-Domain Reflectometer for Dynamic Structure Analysis ‘, IEEE Trans. Instrumentation and Measurement, 2011, Vol. 60/2 pp. 655-661,
  4. Muchaidze, G., Jayong Koo, Qing Cai, Tun Li, Lijun Han, Martwick, A., Kai Wang, Jin Min, Drewniak, J.L., Pommerenke, D., “Susceptibility Scanning as a Failure Analysis Tool for System-Level Electrostatic Discharge (ESD) Problems”, IEEE Trans. EMC, May 2008, Vol 50, No. 2, pp.268-276
  5. Koo, J., Cai, Q.; Muchaidze, G.,Martwick, A., Wang, K.; Pommerenke, D., “Frequency-Domain Measurement Method for the Analysis of ESD Generators and Coupling”, IEEE Trans. EMC, 49/3, August 2007, pp.504-511

其他论文

  • Tianqi Li; Maeshima, J.; Shumiya, H.; Pommerenke, D.J.; Yamada, T.; Araki, K, “An application of utilizing the system-efficient-ESD-design (SEED) concept to analyze an LED protection circuit of a cell phone”, Electromagnetic Compatibility (EMC), 2012 IEEE International Symposium on, August 2012, pp. 346-350
  • Khilkevich, V.; Pommerenke, D.; Li Gang; Xu Shuai, “An inductive probe for the measurement of common mode currents on differential traces”, Electromagnetic Compatibility (EMC), 2012 IEEE International Symposium on, 2012, pp. 720-724
  • Jianmin Zhang; Drewniak, J.L.; Pommerenke, D.J.; DuBroff, R.E.; Zhiping Yang; Wheling Cheng; Fisher, J.; Camerlo, S.; “Signal link-path characterization up to 20 GHz based on a stripline structure”, IEEE Int. Symp. on EMC, 2006 14-18 Aug. Vol. 2, pp.356-361
  • Bhargava, A.; Pommerenke, D.; Kam, K.W.; Centola, F.; Cheng Wei Lam; , “DC-DC Buck Converter EMI Reduction Using PCB Layout Modification,” Electromagnetic Compatibility, IEEE Transactions on , Vol.53, no.3, pp.806-813, Aug. 2011
  • Abou-Khousa, M.A.; Ghasr, M.T.; Kharkovsky, S.; Pommerenke, D.; Zoughi, R.; , “Modulated Elliptical Slot Antenna for Electric Field Mapping and Microwave Imaging,” Antennas and Propagation, IEEE Transactions on , Vol.59, no.3, March 2011, pp.733-741

参与与协同活动

  • IEC TC77b标准 美国代表
  • IEEE EMC协会成员, TC-9, 计算电磁学
  • EMC EOS/ESD研讨会,编辑委员(1996 – 2000)
  • 欧洲EMC协会,编辑委员,2002
  • IEEE, 电磁兼容协会,电介质与绝缘协会成员

协作者 & 其他成员

协作者&合作编辑

  • Daryl Beetner, James L. Drewniak, Richard E. DuBroff, and David Pommerenke, 密苏里科技大学电磁兼容实验室教授
  • Bruce Archambeault, 杰出工程师, IBM, 北卡罗莱纳;
  • Brice Achkir, 杰出工程师, Cisco, 加利福利亚;

研究生导师及博士后资助人

  • 硕士: Prof. Dr.-Ing Wilfried Kalkner.
  • 博士: Prof. Dr.-Ing W. Wilfried Kalkner.