传输线脉冲 (TLP) 测试

传输线脉冲测试,或TLP测试,是半导体静电放电保护结构特性的一种测试方法。在传输线脉冲测试中,通过对一根特定长度的同轴线依次加压,向测试引脚(pin under test, PUT)注入大电流脉冲。注入脉冲的电流幅值和持续时间表征人体模型(HBM)事件(或充电器件模型-CDM事件,对应超快TLP,或VF-TLP)。通过测量入射波和反射波,计算电压-电流(V-I)曲线,来描述ESD保护结构在TLP应力作用时的响应特性。传输线脉冲 测试是独特的,因为电流脉冲是安培量级的,并且TLP测试结果可以显示ESD保护结构的开启,回滞,保持特性。

传输线脉冲测试在两个方面非常有用。一,TLP可以用来表征新技术和知识产权(IP)被测芯片的输入/输出(I/O)焊盘单元。当开发仿真参数时,以及定性比较不同ESD保护结构焊盘单元设计的相对优点时,TLP是非常有用的。二,TLP可以用作电气失效分析工具,通常与常规的,基于标准的器件级ESD测试配合使用。

TLP 测试是根据ESDA TLP 测试方法, ESDA SP5.5-2014来实施的.

适用的TLP行业标准

  • ESDA SP5.5-2014 (ESD 委员会)