传输线脉冲测试，或TLP测试，是半导体静电放电保护结构特性的一种测试方法。在传输线脉冲测试中，通过对一根特定长度的同轴线依次加压，向测试引脚（pin under test, PUT）注入大电流脉冲。注入脉冲的电流幅值和持续时间表征人体模型（HBM）事件（或充电器件模型-CDM事件，对应超快TLP，或VF-TLP）。通过测量入射波和反射波，计算电压-电流（V-I）曲线，来描述ESD保护结构在TLP应力作用时的响应特性。传输线脉冲 测试是独特的，因为电流脉冲是安培量级的，并且TLP测试结果可以显示ESD保护结构的开启，回滞，保持特性。
传输线脉冲测试在两个方面非常有用。一，TLP可以用来表征新技术和知识产权（IP）被测芯片的输入/输出(I/O)焊盘单元。当开发仿真参数时，以及定性比较不同ESD保护结构焊盘单元设计的相对优点时，TLP是非常有用的。二，TLP可以用作电气失效分析工具，通常与常规的，基于标准的器件级ESD测试配合使用。
TLP 测试是根据ESDA TLP 测试方法, ESDA SP5.5-2014来实施的.
适用的TLP行业标准
