ESDEMC即将发布新开发的ES640系列自动化CDM（Charged Device Model, 充电器件模型）测试机台。 ES640可支持多种现行的CDM测试方法，包括广泛使用的场感应放电（FI-CDM）测试方法（ANSI / ESDA / JEDEC JS-002-2018，AEC Q100-011D，AEC Q101-005A），为低压CDM设计的多种先接触再放电（CCDM）测试方法，例如LI -CCDM（ANSI / ESD SP5.3.3-2018），CC-TLP方法，以及我们正在申请专利的RP-CCDM方法。RP-CDM是一种高稳定度的，最接近JS002标准的CCDM测试方法，其校准波形完全符合JS002中的波形标准。 ES640型的高精度电机驱动可将XYZ方向的移动步进降至1 µm，可进行电路模块，封装器件和一些晶圆级的CDM测试。 该解决方案还具有更大的测试区域（150 x 150和300 x 300 mm）。 两种型号都为被测器件或模块提供了足够的空间。 另外，ES640系列机台也可根据客户需求，定制测试区域面积。 ES640使用DSP，可以大大提高测量带宽。对测试链路（包括盘式电阻器，线缆，衰减器和测量通道接头）的频率补偿算法，可以使系统测量带宽超过18 GHz。 ES640型具有±5V至±2000V / 4000V的精确电压控制范围，在测试设置中最多可以启用三个摄像头，以方便用户操作（两个摄像头分别在X和Y方向上观察放电针的接触情况，另一个摄像头在Z方向进行垂直对齐）。 ES640的测试软件可以进行放电波形的自动获取，系统校准，对测量波形数据进行频率补偿数据处理，以及优化测试速度，同时支持多种CDM测试方法。 可应要求提供旧标准和定制的CDM方法。 您可随时通过info@esdemc.com与我们取得联系，以获取有关测试系统的更多信息。