即将上市:支持多种测试方法,更精准电机启动,更大测试区域,更高带宽的CDM测试机台

ESDEMC即将发布新开发的ES640系列自动化CDM(Charged Device Model, 充电器件模型)测试机台。 ES640可支持多种现行的CDM测试方法包括广泛使用的场感应放电(FI-CDM)测试方法(ANSI / ESDA / JEDEC JS-002-2018,AEC Q100-011D,AEC Q101-005A),为低压CDM设计的多种先接触再放电(CCDM)测试方法,例如LI -CCDM(ANSI / ESD SP5.3.3-2018),CC-TLP方法,以及我们正在申请专利的RP-CCDM方法。RP-CDM是一种高稳定度的,最接近JS002标准的CCDM测试方法,其校准波形完全符合JS002中的波形标准。

ES640型的高精度电机驱动可将XYZ方向的移动步进降至1 µm,可进行电路模块,封装器件和一些晶圆级的CDM测试。 该解决方案还具有更大的测试区域(150 x 150和300 x 300 mm)。 两种型号都为被测器件或模块提供了足够的空间。 另外,ES640系列机台也可根据客户需求,定制测试区域面积。

ES640使用DSP,可以大大提高测量带宽。对测试链路(包括盘式电阻器,线缆,衰减器和测量通道接头)的频率补偿算法,可以使系统测量带宽超过18 GHz

ES640型具有±5V至±2000V / 4000V的精确电压控制范围,在测试设置中最多可以启用三个摄像头,以方便用户操作(两个摄像头分别在X和Y方向上观察放电针的接触情况,另一个摄像头在Z方向进行垂直对齐)。

ES640的测试软件可以进行放电波形的自动获取,系统校准,对测量波形数据进行频率补偿数据处理,以及优化测试速度,同时支持多种CDM测试方法。 可应要求提供旧标准和定制的CDM方法。

您可随时通过[email protected]与我们取得联系,以获取有关测试系统的更多信息。

具有多种方法,更好的运动和更高带宽的CDM解决方案