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Wei Huang

Wei Huang

 

Wei Huang
Wei Huang

创始人，董事长，CEO

Wei Huang于 2010年获得密苏里科技大学电子工程硕士学位，于2007年获得北京邮电大学电子工程学士学位。他曾在密苏里科技大学电磁兼容实验室任研究助理，主要方向为电磁兼容，静电，以及射频设计。他是ESDEMC科技有限公司的创始人及董事长，现在致力于ESD和EMC的创新测试方案研发。

iNARTE 认证的电磁兼容工程师

Wei Huang has been an iNARTE Certified EMC Engineer from 2009 (The youngest iNARTE EMC Engineer, 23 years old )

2009年，Wei Huang 成为 iNARTE 认证的EMC工程师(最年轻的 iNARTE EMC 工程师, 23 岁)

专业背景

  • 密苏里科技大学 (前密苏里州立大学罗拉分校), 美国, 电子工程硕士, 2010.
  • 北京邮电大学，中国，电子工程学士, 2007.

职务

  • 2010年 – 至今       ESDEMC科技有限公司创始人，董事长
  • 2009年夏              苹果公司，硬件工程师，便携系统EE组
  • 2007年 – 2010年  研究助理，密苏里科技大学（前密苏里州立大学罗拉分校）EMC实验室
  • 2005年 – 2007年  北京HJH S&T责任有限公司硬件设计工程师，产品设计组

发表论文

  1. W Huang , J Dunnihoo , D Pommerenke, “Effects of TVS Integration on System Level ESD Robustness”, 2010 International EOS/ESD Symposium, Reno, NV, USA, Oct. 3 – 8
  1. W Huang, D Liu, J Xiao, D Pommerenke J Min, G Muchaidze, “Probe Characterization and Data Process for Transient Current Reconstruction by Near Field Scanning Method”, 2010 Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility, Beijing, China, Apr. 12 – 16
  1. Xiao, D. Liu, D. Pommerenke, W Huang, P. Shao, X. Li, J. Ming, G. Muchaidze, “Near Field Probe for Detecting Resonances in EMC Application”, EMC COMPO 2009, 7th International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Nov. 17 – 19
  1. W.Huang, D. Pommerenke, J. Xiao, D. Liu, J. Ming, G. Muchaidze, S. Kwon, “A Measurement Technique for ESD Current Spreading on A PCB using Near Field Scanning”, Present on 2009 IEEE International Symposium on EMC, Austin, Texas, Aug. 17 – 21
  1. M. Giorgi, W. Huang, M. Jin, P. Shao, D. James , D. Pommerenke, “Automated Near-Field Scanning to Identify Resonances”, EMC Europe 2008, Hamburg, Germany, Sep. 8-1
  2. W. Huang, M. Jin, P. Shao, D. James , D. Pommerenke, “Automated Near-Field Scanning to Identify Resonances”, EMC Europe 2008, Hamburg, Germany, Sep. 8-1
  3. W. Huang, J Tichenor, D. Pommerenke, V. Pilla, P. Maheshwari, G. Maghlakelidze, “An Ethernet Cable Discharge Event (CDE) test and measurement system”, 2014 IEEE International Symposium on EMC, North Carolina, Raleigh, Aug. 3 – 8

协作者&合作编辑

  1. David Pommerenke, 密苏里科技大学电磁兼容实验室教授
  2. Jerry Tichenor, Fredric Stevenson, ESDMEC科技有限公司产品设计部成员

研究生导师

  • David Pommerenke教授