Related Standards:

• ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018 (FICDM)
• AEC Q100-011 Rev-D (2019 Ver. follows JS-002)
• AEC Q101-005 Rev-A (2019 Ver. follows JS-002)

Charged Device Model (CDM) electrostatic discharge is a common cause of microelectronic circuit failure. Sensitive devices can be seriously damaged or destroyed by a CDM discharge at relatively low voltage. This often occurs when the static charged device contacts a metal surface at a different potential. Such an electrostatic discharge often has an extremely fast rise time.  ESDEMC provides CDM test service up to 4kV, and the maximum test area up to 375 X 425 mm.